English: Deformed crystal of zircon, scanned in situ with various scanning electron microprobe (SEM) techniques. Top (from left to right): secondary electron image, orientation contrast and back-scattered electron images; bottom: "cumulative" electron backscatter diffraction map (misorientation from blue to red: 25 degrees), cathodoluminescence image and "local misorientation" electron backscatter diffraction map.
Русский: Деформированный кристалл циркона, снятый различными техниками на растровом электронном микроскопе. Верхний ряд: изображение во вторичных электронах, ориентационный контраст, изображение в обратно-рассеянных электронах. Нижний ряд: карта дифракции отражённых электронов (разориентация от синего до красного: 25 градусов), катодолюминесценция, карта "местной разориентации" дифракции отражённых электронов
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
распространение на тех же условиях – Если вы изменяете, преобразуете или создаёте иное произведение на основе данного, то обязаны использовать лицензию исходного произведения или лицензию, совместимую с исходной.
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.